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Limitaciones de la tecnología de fluorescencia de rayos X
La tecnología de fluorescencia de rayos X (XRF, por sus siglas en inglés) aprovecha las propiedades de emisión inherentes de los materiales para interpretar su composición elemental. Es uno de los principales métodos analíticos utilizados para determinar el contenido químico de diversas muestras a nivel de trazas y ultratrazas. Entre las muchas ventajas de la tecnología de fluorescencia de rayos X se encuentran su enorme versatilidad, su carácter no destructivo y sus extraordinarios niveles de precisión debido a la fiable física subyacente de la tecnología. Sin embargo, este método de caracterización de materiales, líder en la industria, tiene sus desventajas.
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Una Breve Guía de ICP-MS
La espectrometría de masas con plasma acoplada inductivamente (ICP-MS) es una técnica analítica avanzada que proporciona análisis químicos de trazas y ultratrazas para una amplia gama de industrias. Esta publicación de blog, XRF Scientific tiene como objetivo proporcionar una introducción detallada al ICP-MS, desde la preparación inicial de la muestra hasta las diversas aplicaciones posteriores de la tecnología.
¿Qué es ICP-MS?
Un espectro de masas es una forma de histograma que representa la huella digital elemental de una muestra. Este patrón se traza midiendo la relación masa-carga de iones versus intensidad, lo que proporciona información detallada sobre la firma elemental o isotópica del material en estudio.
La importancia de utilizar un material de referencia para la fluorescencia de rayos X
Un material de referencia es un control utilizado para validar la calidad y la trazabilidad de una muestra y para validar los métodos empleados para analizar estos materiales. Los materiales de referencia se utilizan a menudo en la química analítica para realizar estas validaciones, ya que la mayoría de los instrumentos analíticos reúnen datos comparativos. La comparación entre el material de referencia y la muestra sometida a ensayo proporciona una variedad de información en el análisis por fluorescencia de rayos X (XRF, por sus siglas en inglés), incluido el espesor del recubrimiento y otras propiedades de la superficie del material.
Tipos de materiales de referencia
Según el producto que se analice, se puede emplear una serie de materiales de...
