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Una Breve Guía de ICP-MS
La espectrometría de masas con plasma acoplada inductivamente (ICP-MS) es una técnica analítica avanzada que proporciona análisis químicos de trazas y ultratrazas para una amplia gama de industrias. Esta publicación de blog, XRF Scientific tiene como objetivo proporcionar una introducción detallada al ICP-MS, desde la preparación inicial de la muestra hasta las diversas aplicaciones posteriores de la tecnología.
¿Qué es ICP-MS?
Un espectro de masas es una forma de histograma que representa la huella digital elemental de una muestra. Este patrón se traza midiendo la relación masa-carga de iones versus intensidad, lo que proporciona información detallada sobre la firma elemental o isotópica del material en estudio.
La adquisición de estos datos
La importancia de utilizar un material de referencia para la fluorescencia de rayos X
Un material de referencia es un control utilizado para validar la calidad y la trazabilidad de una muestra y para validar los métodos empleados para analizar estos materiales. Los materiales de referencia se utilizan a menudo en la química analítica para realizar estas validaciones, ya que la mayoría de los instrumentos analíticos reúnen datos comparativos. La comparación entre el material de referencia y la muestra sometida a ensayo proporciona una variedad de información en el análisis por fluorescencia de rayos X (XRF, por sus siglas en inglés), incluido el espesor del recubrimiento y otras propiedades de la superficie del material.
Tipos de materiales de referencia
Según el producto que se analice, se puede emplear una serie de materiales de referencia
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¿Cómo funciona un espectrómetro de XRF?
La espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF, por sus siglas en inglés) es la medición y el análisis de muestras excitadas por la radiación incidente. Es un método no destructivo de caracterización de materiales, que permite una investigación precisa de la composición elemental y química de los metales, cerámicas, muestras geológicas, objetos históricos y más. Este método se basa en un espectrómetro de XRF y en rutinas de preparación de muestras especializadas para garantizar una excelente precisión y repetibilidad de las mediciones.
Los dos componentes principales de un espectrómetro de XRF son una salida de rayos X y un detector sensible capaz de determinar rayos X fluorescentes a partir de la luz incidente. Este conjunto emite un haz de rayos X o rayos gamma a un
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